반도체 소자 시험 설비 성능 테스트 어플리케이션



1. Flow 

PC ->동작 Switch ->센서(24V에 동작)


2. 요구사항 

1) 24V 신호 작동 

2) 1ms /1μs Sampling 내에서 시험 진행


3. 결과

Excel -> 보고서 -> S사 반도체회사에 제출 


- 반도체 소자 시험 설치 성능 테스트로 이 시험설비 내부에는 여러 개의 센서가 있음

- PC에서 스위치로 명령을 내리면 스위치에서는 24V가 나오고, 그 24V 가 센서에게 전달되는 시간을 확인하는 용도로 GL980을 사용

- 센서는 24V신호에 구동이 되는 상황

- 따라서 화면에 있는 FLOW에 맞춰서 테스트가 진행이 되고, 스위치에서 센서까지 24V가 전달되는 GAP이 얼마나 있는지, 거의 1ms이나 1μs Sampling 이내 gap 발생함



데이터 수록 장소

내장 RAM-데이터 블록 분할 저장 가능


수록장소를 내장 RAM으로 설정하면 1μs 샘플링 으로 데이터 취득할 수 있습니다.

하지만 내장 RAM은 휘발성이기 때문에 한번 수록하고 나서 다른 셋팅을 하면 데이터가 날아갑니다.

따라서 한번 데이터 수록하고 나서는 데이터를 PC로 백업을 해야 합니다.


- 샘플링으로 데이터 취득을 원한다면 내장 flash 메모리로 수록장소를 선택하고 데이터 취득함

- 1μs 샘플링으로 데이터 취득은 내장 RAM 수록장소, 데이터를 분할하여 가능 

- 데이터 분할은 1,2,4,8로 분할 할 수 있으며, 설정은 이미지와 같이 할 수 있음

- 1번 시험할 때 START -> STOP 까지 최대 4GB까지 데이터를 저장하는데, 데이터 분할기능 수에 따라서 한 파일당 데이터 저장 용량도 나눠짐

- 예를 들어 2개로 데이터 분할하면 각 파일당 2GB씩 데이터 저장 가능




내장 Flash/외장 SD Card/외장 USB 

- 내장 FLASH 메모리나 SD카드, USB메모리를 사용하면 1ms Sampling 으로 데이터 취득 가능

- 데이터 저장을 GBD가 아닌 CSV(엑셀)확장자로 저장할 수 있고, 저장된 데이터는 PC에서 볼 수 있음

- 변환작업없이 장비에서 저장된 CSV 파일을 PC에서 바로 읽어 볼 수 있음




메모리 편의 기능

- 링 모드의 데이터 저장은 샘플링과 데이터 저장 수를 설정해놓고, 설정한 값 만큼만 데이터를 저장

- 추가적으로 데이터 저장을 원할 경우에는 과거 오래된 데이터는 자동으로 삭제하고 데이터 저장이 시작됨

- 셋팅 값, 셋팅 포인트 수, 데이터 저장 개수는 모두 같은 말 

- 셋팅 값은 1000~10000000 포인트 까지 설정 할 수 있음

- 샘플링 + 셋팅 값을 설정하게 되면, 데이터 용량값과 수록 시간이 장비에 자동으로 계산이 되어 나타남




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