반도체 소자 시험 설비 성능 테스트 어플리케이션


반도체 소자 시험 설치를 위한 테스트로, 이 시험 설비 내부에는 여러 개의 센서가 존재합니다. PC에서 스위치로 명령을 내리면 스위치에서는 24V가 나오고, 그 24V가 센서에 전달되는 시간을 확인하는 용도로 GL980을 사용합니다.

센서는 24V 신호에 구동이 되며 화면에 있는 FLOW에 맞춰 테스트가 진행되며 스위치에서 센서까지 24V가 전달되는 시간의 차이가 얼마나 있는지 확인합니다.



1. Flow 

PC → 동작 Switch → 센서(24V에 동작)


2. 요구사항 

 1) 24V 신호 작동 

 2) 1ms /1μs Sampling 내에서 시험 진행


3. 결과

Excel → 보고서 → S사 반도체회사에 제출




데이터 수록 장소

내장 RAM-데이터 블록 분할 저장 가능



수록장소를 내장 RAM으로 설정하면 1μs 샘플링으로 데이터를 취득할 수 있으나 내장 RAM은 휘발성이기 때문에 한번 수록하고 나서 다른 세팅을 하면 데이터가 소멸됩니다. 따라서 데이터를 수록하고 수록된 데이터를 PC로 백업하여 관리합니다.


  • 샘플링으로 데이터 취득을 원한다면 내장 flash 메모리로 수록장소를 선택하고 데이터 취득
  • 데이터 취득은 내장 RAM 수록장소에 분할하여 저장 가능
  • 데이터 분할: 1, 2, 4, 8로 분할 가능




내장 Flash/외장 SD Card/외장 USB 

  • 내장 Flash 메모리, SD Card, USB 메모리 사용 시 1ms Sampling으로 데이터 취득 가능
  • CSV(엑셀) 확장자로 데이터 저장 가능, PC에서 확인 가능
  • 변환 작업 없이 장비에 저장된 CSV 파일을 PC에서 바로 읽어볼 수 있음




메모리 편의 기능

  • 링 모드의 경우, 샘플링과 데이터 저장 수를 설정해놓고 설정한 값만큼만 데이터 저장
  • 추가로 데이터 저장 원할 시 과거 데이터는 삭제되고 새로 데이터 저장 시작
  • 셋팅값 = 셋팅 포인트 수 = 데이터 저장 개수
  • 셋팅값: 1,000~10,000,000 포인트까지 설정 가능
  • 샘플링+셋팅값 설정 시 데이터 용량값과 수록 시간이 장비에 자동으로 계산되어 나타남




    

  <GL980 특징>


  • 고속 1MS/s 동시 샘플링 가능
  • 16bit A/D 변환기로 500V까지 측정 가능
  • true RMS 값 측정 가능
  • 4GB 대용량 저장장치



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