KLARIC · 차량/배터리/반도체 측정장비
MULTI-8 ETH
저전압 이더넷 측정 모듈 (8입력)Low-Voltage Measurement Module with Ethernet
KLARI-PROBES와 함께 대기·동작·피크 전류는 물론 전압·온도까지 측정하는 이더넷 측정 모듈입니다. 8개의 범용 입력(16채널)을 갖추고 채널당 최대 8kHz로 샘플링하며, 모든 입력이 상호 절연되어 있습니다. 100Mbit/s 이더넷(XCP-on-Ethernet)으로 데이터를 출력하고, 자동 A2L 생성을 지원합니다.
- 8입력·16CH범용 입력
- 8 kHz채널당 샘플링
- 100 Mbit/s이더넷 인터페이스
- IP65보호 등급
MULTI-8 ETH의 주요 특징
8범용 입력 · 16채널
8개의 범용 입력(16채널)으로 전류·전압·온도를 KLARI-PROBES와 함께 측정합니다.
채널당 8kHz 샘플링
채널당 최대 8kHz로 샘플링하며, 동적 샘플링을 지원합니다.
100Mbit/s 이더넷
100Mbit/s 이더넷(100 BASE-TX)으로 XCP-on-Ethernet(TCP/IP·UDP/IP) 데이터를 출력합니다.
자동 A2L 생성
자동 A2L 생성과 프로브 자동 인식(TEDS 유사)으로 셋업이 간편합니다.
전체 입력 절연 · 오토레인지
모든 입력이 갈바닉 절연되며, 오토레인지·동적 샘플링으로 대기·동작 전류를 자동 측정합니다.
Ah 연산
온라인 Ah 연산(옵션)으로 전류를 Ah로 적산하여 출력할 수 있습니다.
상세 기능 및 구성
측정 입력 구성과 이더넷 인터페이스, 적층형 하우징을 정리했습니다.
측정 입력 · 이더넷 인터페이스
정면에 8개의 측정 입력(1~8)과 STATUS·ETH 커넥터가 배치되어 있습니다. 100Mbit/s 이더넷으로 XCP-on-Ethernet 데이터를 출력하며, 자동 A2L 생성을 지원합니다.
- 8개 범용 입력(16채널) · KLARI-PROBES 연결
- 100Mbit/s 이더넷(100 BASE-TX)
- XCP-on-Ethernet(XCP-on-TCP/IP · XCP-on-UDP/IP)
- 자동 A2L 생성 · 프로브 자동 인식(TEDS 유사)
적층형 하우징 · 소프트웨어 설정
알루미늄 하우징이며, CLICK 버전으로 기계적 적층이 가능합니다. 소프트웨어로 동작 모드를 설정할 수 있습니다.
- Basic: 가장 단순한 응용 설정
- Dynamic Sampling Rate: 대기 전류 측정 시 속도 전환
- Ah 연산(옵션) · 오토레인지
- 적층형 하우징(CLICK 버전, 옵션)
제품 구성 이미지
적합 센서 (전류)
FUSE-Probe(Micro/Mini/ATO/MAXI/MCASE/JCASE) · HI-Probe(BF1/BF2/BF3) · LI-Probe
적합 센서 (전압·온도)
U-Probe · T-Probe(PT100/PT1000)
제품 구성 · 액세서리
본체 · 공장 교정 성적서(DAkkS 옵션) · A2L·문서 · KLARIC LV 프로브 · 이더넷 전원 케이블 하네스
활용 분야
차량 전력 전자의 성능 측정과 대기·동작 전류, 온도 측정이 필요한 분야에서 활용됩니다.
MULTI-8 ETH 사양
| 입력 | 8개 범용 입력 · 16채널 |
|---|---|
| 측정 대상 | 전류 · 전압 · 온도 (KLARI-PROBES 연결) |
| 인터페이스 | 100Mbit/s 이더넷(100 BASE-TX) · XCP-on-Ethernet(TCP/IP·UDP/IP) |
| 설정 방식 | 이더넷 · 자동 A2L 생성 |
| 샘플링 레이트 | 채널당 최대 8kHz · 동적 샘플링 |
| 측정 레인지 | 5개 측정 레인지 · 오토레인지 기능 |
| 절연 | 모든 입력 갈바닉 절연 |
| 프로브 인식 | 프로브 자동 인식 (TEDS 유사) |
| 연산 기능 | 온라인 Ah 연산(옵션) |
| 하우징 | 알루미늄 62 / 120 / 40 mm (L/W/H) · CLICK 적층 버전(옵션) |
| 보호 등급 | IP65 |
| 동작 온도 범위 | -40℃ ~ +85℃ |
| 전원 공급 | 7V ~ 60V DC |
| 제품 구성 | MULTI-8 ETH 본체 · 공장 교정 성적서(DAkkS 옵션) · A2L·문서 |
| 메이커 | KLARIC (독일) |
측정 레인지 (Gain별)
| Gain | 측정 레인지 | 분해능 |
|---|---|---|
| Gain 100 | ±9mV | 300 nV/Bit |
| Gain 40 | ±27mV | 900 nV/Bit |
| Gain 25 | ±42mV | 1.4 µV/Bit |
| Gain 5 | ±210mV | 7 µV/Bit |
| Gain 1 | +1050 / -240mV | 35 µV/Bit |
* 각 값은 최소 측정 범위 기준입니다. 정확도: 측정값의 ±0.1% ±3bit (23℃±5℃). 측정 레인지는 프로브 구성에 따라 달라집니다. 자세한 사양은 데이터시트를 참고하세요.
자료 다운로드
첨부된 데이터시트를 내려받을 수 있습니다.
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